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zurück zur ÜbersichtNanoFocus AG stellt neues Kompaktsystem aus der µscan-Produktlinie vor
Die Oberhausener NanoFocus AG, Messtechnikspezialist im Mikro- und Nanometerbereich, erweitert 2009 ihr Produktportfolio um den neuen µscan explorer, ein kompaktes, automatisierbares 3D-Scanning-Profilometer. Die flexible Standardlösung für schnelles und exaktes Messen von technischen Oberflächen basiert auf der bewährten µscan-Technologie. Die Vorteile des berührungslosen Scannens mit optischen Sensoren vereint der µscan explorer mit einem leistungsstarken Softwarepaket zu einem attraktiven Preis. Hilfreiche Hard- und Software-Tools sorgen zudem für hohen Bedienkomfort und Zeiteinsparungen im Messprozess. NanoFocus präsentiert die Neuentwicklung auf der diesjährigen MEDTEC Europe in Stuttgart erstmals dem Fachpublikum.
In die Entwicklung des µscan explorers floss die langjährige Erfahrung von NanoFocus mit der patentierten µscan-Technologie ein, auf die bereits zahlreiche Kunden bei der Qualitätssicherung ihrer Oberflächen vertrauen. Die Topografie wird dabei zeilenförmig erfasst. Während der Verfahrtisch mit der Probe mikrometergenau unter dem Sensor entlangfährt, misst dieser zeitgleich lokal die Höhe der Oberfläche und speichert diese in einem Höhenprofil ab. Aussagekräftige 3D-Messwerte sind so innerhalb kürzester Zeit verfügbar, bis zu 100-mal schneller als mit herkömmlichen taktilen Verfahren.
Kompaktsystem für multifunktionalen Einsatz
Der µscan explorer deckt ein breites Spektrum von Messaufgaben ab, etwa die Messung von Lotpastenvolumen, BGA-Koplanarität, Schichtdicken auf Keramiksubstraten sowie die DIN EN ISO-konforme Messung von Form, Welligkeit und Rauheit in der Feinbearbeitung. Messungen sind dabei an nahezu allen Materialien, von diffus bis spiegelnd, möglich. Die Flexibilität verdankt das Kompaktsystem vor allem den modular einsetzbaren optischen Sensoren. Diese lassen sich unkompliziert mit wenigen Handgriffen abnehmen und austauschen. Drei verschiedene hochauflösende chromatische Konfokalsensoren mit Messebereichen von 400 µm bis 3200 µm stehen zur Auswahl. Das Kompaktsystem wird inklusive eines Sensors, den der Kunde wählen kann, ausgeliefert. Parallel dazu kann ein weiterer zeitgleich am System installiert werden. Durch seinen robusten Aufbau ist der µscan explorer die richtige Wahl sowohl für den Laboreinsatz als auch für die Produktionsumgebung.
Hilfreiche Tools beschleunigen und vereinfachen Messprozesse
Der µscan explorer zeichnet sich neben der Multifunktionalität vor allem durch seinen hohen Bedienkomfort aus. Hilfreiche Tools unterstützen den Nutzer beim gesamten Messprozess, so dass schnell und unkompliziert aussagekräftige 3D-Messwerte zur Verfügung stehen. Die eingebaute Echtzeitkamera beispielsweise sorgt für schnelle Orientierung bei der Auswahl des Point of Interests. Ein Signalbalken zeigt zudem an, ob man sich innerhalb oder außerhalb des Messbereichs befindet. Über ein Remote-Control ist die Steuerung direkt am System möglich.
Leistungsstarkes Softwarepaket
Das Kompaktsystem µscan explorer ist mit einem umfangreichen Softwarepaket ausgestattet. Mit der übersichtlich strukturierten Software lassen sich Messungen sowohl zuverlässig durchführen und nach neuesten Standards auswerten als auch ganze Messabläufe automatisieren. Messrezepte für wie-derkehrende Messungen und sogar ganze Messablaufpläne lassen sich speichern und immer wieder anwenden. Das erspart dem Nutzer Aufwand, Zeit und somit vor allem auch Kosten bei den täglichen Messaufgaben.
Als Ergänzung zu den bereits am Markt etablierten Systemen µsurf explorer und µsurf mobile komplettiert der µscan explorer die Produktkategorie der Standardlösungen von NanoFocus. „Der neue µscan explorer vereint zahlreiche Vorteile in einem kompakten System: Er ist für eine große Bandbreite an Messaufgaben einsetzbar, mit bedienfreundlicher Hard- und Software ausgestattet und liefert schnelle sowie zuverlässige 3D-Messwerte“, so Dr. Hans Hermann Schreier, Vorstandsvorsitzender der NanoFocus AG. „Damit ist er die kompakte Standardlösung für den preiswerten Einstieg in die leistungsfähige Scantechnologie.“