Schichtdicke
Quantifizieren von Beschichtungen und Oberflächen transparenter Materialien
Die quantitative Kontrolle der Oberfläche bzw. Schichtdicke transparenter Beschichtungen oder Materialien erfordert zuverlässige Messtechnik, die unter diesen speziellen Messbedingungen aussagekräftige Kennwerte liefert. Mit der berührungslosen 3D-Messtechnik von NanoFocus kann die Dickenverteilung transparenter Schichten flächenhaft ab 1µm Dicke gemessen werden. Dabei bietet die hochauflösende NanoFocus-Konfokaltechnologie viele Vorteile gegenüber anderen Verfahren.
So kann etwa im gleichen Messvorgang auch die Topografie der Schichtoberfläche oder des Grundmaterials aufgenommen werden. Ebenso werden Fehler in der Beschichtung wie Blasen oder Einschlüsse erkannt. Mit Hilfe des Brechindex des Materials kann auch die absolute Dicke berechnet und dargestellt werden. Die materialunabhängigen 3D-Messsysteme von NanoFocus sind selbst dazu geeignet, komplexe Geometrien innerhalb von transparenten Objekten, wie zum Beispiel bei Mikrofluidik-Komponenten, quantitativ zu vermessen. Ein weiterer großer Vorteil der NanoFocus-Messsysteme ist, dass sie aufgrund ihrer robusten Bauweise und hohen Messgeschwindigkeit nicht nur im Labor, sondern auch in der Produktionsumgebung eingesetzt werden können.
Auf einen Blick
- Messung transparenter Schichten und Materialien
- Schichtdicke ab 1µm
- Messung der absoluten Dicke
- Gleichzeitige Topografie- und Rauheitsmessung
- Analyse komplexer Geometrien im transparenten Kunststoff
- Materialunabhängig
