Messprinzipien
µsurf-Technologie
Die µsurf-Sensorik basiert auf der patentierten flächenhaft-konfokalen Technologie von NanoFocus. In Sekunden erfasst sie Topografie, Rauheit und Schichtdicke im Mikro- und Nanometerbereich. Details
µscan-Technologie
Die flexible µscan-Technologie basiert auf dem Prinzip der optischen 3D-Scanning-Profilometrie unter Einsatz verschiedener Punktsensoren. Die Profilometer sind ideal zum schnellen Scannen von Oberflächenprofilen mit Genauigkeiten bis in den unteren Nanometerbereich.Details
µsprint-Technologie
Die schnelle µsprint-Technologie basiert auf einer Kombination aus einem Laser mit bis zu 128 Kanälen und einer vertikal oszillierenden Stimmgabel. Dies erlaubt das hochauflösende Scannen der Oberfläche in Inline-Geschwindigkeit. Details
